QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀

描述：執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ，本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。

更新時(shí)間：2025-11-09

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QUC-200 數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ，本儀器適于測(cè)定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)：
1 、測(cè)量范圍： O-200μm
2 、測(cè)量精度：±（ 0.7μm+3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

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